分析LED惯例性老化方法
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LED惯例性老化实验比照
一般来说,尤其是大功率LED在初始点亮期间光度都会有必定的衰减,LED封装厂为了提供给运用端厂商发光安稳的商品,或许是运用端厂商家为了取得安稳的led资料,一般都会做一些老化实验。当然LED老化实验有多种方法,如惯例性老化、过电流冲击破坏性实验等等。
LED厂商一般会用以下几种方法进行惯例性老化:
1、多颗管串联老化:恒压老化电路和恒流老化电路
2、多颗管并联老化
3、多颗管串并联老化:串并恒压老化和串并恒流老化
4、单管恒流老化
比拟以上4种老化方法, 1、3种方法中只需有一颗LED呈现质量毛病,比方LED短路或许断路都会影响另外LED的作业电流参数。第2种方法优于1、3种,任一颗LED特性改变不会影响到另外LED老化参数,但事实上靠电阻限流的方法是不可靠的,电阻自身阻值漂移和LED自身电压特性改变都会严重影响LED参数。明显,第4种单管恒流老化抓住了LED电流作业特性,是最科学的LED老化方法。
老化在实验进程中应该是一个非常重要的进程,但在许多公司往往会被忽视,不能进行正确有用的老化,后面临LED自身所进行的包含亮度、波长等一切参数的剖析都将不确定。过电流冲击性老化也是厂家常常运用的一种老化手法,一般运用频率可调、电流可调而且占空比可调的恒流源进行此类老化,以等待短时间内判别LED的质量及预期寿数。
本文章由澳镭照明电器收拾发布,澳镭照明官方网站:www.aooled.com